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用椭偏光法研究Si-SiO_2过渡层的特性
论文 | 更新时间：2023-12-11
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    • 用椭偏光法研究Si-SiO_2过渡层的特性

    • 暂无标题

    • 中山大学学报(自然科学版)(中英文)   1980年19卷第4期 页码：60-64

    • 纸质出版日期：1980，

      网络出版日期：1980-7-25，

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  • 余玉贞, 黄炳忠. 用椭偏光法研究Si-SiO_2过渡层的特性[J]. 中山大学学报(自然科学版)(中英文), 1980,19(4):60-64. DOI：

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