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中山大学无线电电子学系
纸质出版日期:1999,
网络出版日期:1999-5-25,
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潘中良, 陈翎, 张光昭. 电路测试的可区分故障算法研究[J]. 中山大学学报(自然科学版)(中英文), 1999,38(3):22-25.
潘中良, 陈翎, 张光昭. 电路测试的可区分故障算法研究[J]. 中山大学学报(自然科学版)(中英文), 1999,38(3):22-25. DOI:
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研究一种基于人工神经网络的能区分故障的数字电路测试生成方法,该方法利用电路基本逻辑门的特性和神经网络模型的特点,首先建立测试生成的神经网络模型,然后通过求解网络能量函数的最小值点获得给定类型故障的测试矢量,其研究结果在可区分故障的测试生成方面提供了一种可能的新途径
&nbsp数字电路测试生成人工神经网络
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