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利用振动电容法测量SiO_2薄膜的电荷分布
论文 | 更新时间:2023-12-11
    • 利用振动电容法测量SiO_2薄膜的电荷分布

    • 暂无标题

    • 中山大学学报(自然科学版)(中英文)   1983年22卷第2期 页码:128-130
    • 纸质出版日期:1983

      网络出版日期:1983-3-25

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  • 吴振辉, 梁本镜, 余秉才, 等. 利用振动电容法测量SiO_2薄膜的电荷分布[J]. 中山大学学报(自然科学版)(中英文), 1983,22(2):128-130. DOI:

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